LPW: LFitting类参考

Leaper WaferScan Toolkit

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类 LFitting 继承关系图:

额外继承的成员函数
Public 成员函数继承自 ILFitting
ILCircle *	FitCircle (ILPoints *points)

ILLine *	FitLine (ILPoints *points)

Public 成员函数继承自 ILObject
ILObject *	Copy ()

LPVErrorCode	Load (LString filename)

void	Reset ()

LPVErrorCode	Save (LString filename)

BOOL	Valid ()

属性继承自 ILFitting
int	CountThreshold `[get, set]`
	用于拟合的最少点数，若点数少于该数值，将终止拟合迭代，拟合失败。默认值为 0 表示不进行最少点数检查。

double	DistThreshold `[get, set]`
	拟合图形与点集中的用于拟合的点之间的距离阈值。拟合迭代过程中，距离大于该阈值的点将被剔除不参与拟合。默认值为 0 表示跳过剔除过程，即所有点总是都参与拟合。

int	MaxIteration `[get, set]`
	迭代拟合的最大次数。默认值为 10.

详细描述

该类实现了 ILFitting 接口，用于创建图形拟合工具的实例。