LPW 刻线检测模块，提供具有高精度、高抗噪性和稳定性的刻线检测算法。 更多...
结构体 | |
| interface | ILKerfDetector |
| 该接口提供刻线检测和定位的功能。 更多... | |
| interface | ILKerfResult |
| 该接口表示单个刻线检测结果，可获取其具体属性。 更多... | |
| class | LKerfDetector |
| class | LKerfResult |
枚举 | |
| enum | LPWKerfDrawFlags { LPWKerfDrawLineUp = 0x01 , LPWKerfDrawLineDown = 0x02 , LPWKerfDrawLineMid = 0x04 , LPWKerfDrawGlueEdge = 0x08 , LPWKerfDrawLineRange = 0x10 , LPWKerfDrawDefault = LPWKerfDrawLineUp + LPWKerfDrawLineDown , LPWKerfDrawAll = 0xff } |
| 该枚举用于控制刻线检测结果绘制的行为 更多... | |
| enum | LPWKerfGrowStrategy { LPWKerfGrowNearCenter = 0 , LPWKerfGrowNearDark = 1 } |
| 该枚举用于控制刻线检测时所使用的生长策略 更多... | |
LPW 刻线检测模块，提供具有高精度、高抗噪性和稳定性的刻线检测算法。
使用该模块中的类和算法，需按照以下方式引用该模块：
| enum LPWKerfDrawFlags |
| enum LPWKerfGrowStrategy |
