Leaper WaferScan Toolkit
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高性能 Leaper 机器视觉工具库Leaper WaferScan Toolkit (LPW) 为帮助用户构建应用于半导体和 LED 生产制程中的机器视觉应用而设计，并提供最大程度的灵活性。LPW 允许开发者按照实际需求任意组织视觉处理流程，配置多线程，调整任意视觉算法工具的所有开放参数。 完全掌控整个机器视觉系统LPW 提供稳定、有效的 Leaper 视觉算法工具库，用户可自由构建机器视觉解决方案，包括定位、测量、对位、检测和识别等。 |
具有高效、高质量的半导体和 LED 生产需要在整个制造过程中实现高速、精准和持续地追踪。Leaper 机器视觉技术帮助确保晶圆在分级、计数、掩膜和蚀刻等过程中的精确对准，提高晶圆和芯片在前道和后道制程中的可追溯性，并通过先进的检测技术提高产品质量。
为快速设计和实施而设计，满足 OEM 和高级机器视觉系统开发的需求。多种适用不同使用场景的算法库和用户交互界面控件，可完全整合 LPW 模块到 OEM 应用及设备平台。
灵闪是一个基于利珀科技机器视觉基础框架开发的轻便的智能算法配置及组合工具平台。通过所见即所得的交互界面和简单的拖拽操作，用于快速开发和迭代定位、测量、缺陷检测等机器视觉任务。灵闪平台提供一系列覆盖具体应用需求的算法工具包。LPW 能够无缝连接到灵闪平台，帮助用户直接使用其在灵闪平台上开发的机器视觉解决方案，将其集成到 LPW 应用程序中运行、操作，实现更大程度上的灵活性和可扩展性。
